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产品简介：
该款设备是一种用于测量硅片和太阳能电池片电阻和电阻率的系统。该系统是为便于个人计算机操作而设计的，具有多种数据分析、绘图等功能.
产品特点：
- X，Y，Z轴全自动系统
- 自动范围选择
- 300/450 mm晶片和太阳能电池系统
- 通过操作软件完善远程控制
- 数据分析(2D、3D地图/数据地图/趋势图等)
- ASTM, SEMI 测量模式
售后服务
1年
是
有
根据需要
简单易于维护
终身维修
24小时对应
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四探针测试系统（for 300/450mm wafer）信息由南京爱斯莱特检测技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于四探针测试系统（for 300/450mm wafer）报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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