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OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。
该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，最低可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
产品特点：
可定制扫描测量长度
支持多通道测量升级
高采样分辨率和定位精度
可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
产品应用：
光纤微裂纹检测
产线自动化检测
FA光纤阵列链路性能检测
硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测
产品参数：
主要参数 | ||
基础参数 | ||
工作波长 | 1290~1330/1530~1570 | nm |
测量长度1 | 12 45 90 | cm |
采样分辨率 | 1 | μm |
定位精度 | 0.3 | mm |
测量时间2 | 1~15 | s |
回损测量范围 | -10~-100 | dB |
回损重复精度 | ±3 | dB |
硬件 | ||
输入电压 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主机功率 | 60 | w |
通讯接口 | USB | - |
引纤长度3 | 5 | m |
光纤接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
储存温度 | 0~50 | ℃ |
工作温度 | 0~40 | ℃ |
储存与工作湿度 | 10~70 | %RH |
备注：
1.测量长度指设备最大测量长度，在该最大测量长度内可任意选择测量区间段；
2.测量时间与测试长度相关，可任意选择扫描长度，测量时间1s@2cm、15s@90cm；
3.标准版引纤长度为5m，可定制其他长度。
1年
否
有
根据情况约定培训次数
6个月1次
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