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PW-CTS-80T热流仪对外提供检测服务；适合芯片、光模组、3C散热片等热气流冲击测试，冷热冲击测试、高低温快速测试，广泛用于手机芯片、汽车芯片、消费电子芯片行业。
产品用途
罩杯式温度冲击系统又称为热流仪、气体快速冲击试验箱、快速温变仪等，在芯片、半导体、、传感器、微电子、通信等领域被广泛使用。其能在短时间内检测样品因高低温冷热冲击所引起的化学变化和物理损坏，有效减少测试与验证时间，快速提高产品研发和生产效率。
特点
1、超快速冷热冲击技术；
2、自主研发控制系统；
3、超快速升降温冷冻系统；
4、高效提升生产效率；
6、5、能源节约达30%以上；
7、长久低温运行测试零结霜功能；
8、可综合自动化线上产品测试。
性能技术指标
标准系统配置：气体传输管
温度范围：-80℃～220℃
控制精度：± 1. 0 ℃
温度设定及显示精度：0. 1 ℃
温度过冲：≤ 1 ℃
外箱尺寸：约630 * 1230 * 890 mm( W* H* D)
温度变化速度（出气口、 空载）：-40℃ ～ + 85 ℃ ， 约10 S；+85 ℃ ～ -40℃ ， 约11 S
统计气流输出：5～20 SCFM 可调
温度控制：气体温度与样品温度可切换控制
温度传感器：T 型热电偶
操作界面：触摸屏
操作方式：程序方式、 定值方式
状态显示：温度设定并实时显示
数据存储：数据文件可以存储在优盘中
通讯方式：网络接口，USB,RS485(提供第三方通讯协议）,可追加GBIP接口
上位机软件：支持 labview
数据记录：数据可以记录到文件或转存计算机中
移动灵活性：附有 4 个旋转脚轮
校准方式：手动校准
供给气体：温度 20~25 ， 露点 10 ℃ 以下气体或 N2
供给气体条件：压力：0.55-0.78MPa（5.6-7.7kg/cm2）
门气密材料：测试时提供试品温度传感器测温( 共一支)。
气流透明罩：内径：15mm 外经：180mm (共一个)
电源：AC220V 50HZ 单相
运行功率：3KW 左右
1年
是
有
1人次现场免费培训
3月1次
免费维修更换零件
24小时内电话沟通解决
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