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一、产品介绍：
厚度标准块（片）—JJF1306- 2011X射线荧光镀层测厚仪广泛应用于电子、半导体、集成电路等 先进制造领域中镀层膜厚测量仪器的误差校准 及量值溯源，自支撑金属膜厚标准片、镀层膜厚标准 块、涂覆层测厚仪厚度标准片，满足JJF1306- 2011 X射线荧光镀层测厚仪校准规范。
二、特点：
厚度标准块（片）—JJF1306- 2011X射线荧光镀层测厚仪携带方便，应用灵活，定值精度高，直 接溯源于国家镀层膜厚标准。
三、技术指标：
标称厚度 加工偏差 测量不确定度
<0.1mm ±35% 0.005mm
0.05~1mm ±30% <0.01mm+5%
>1~10mm ±25% <5%
>10~50mm ±15% <5%
>50mm ±10% <5%
1年
是
有
免费1次培训
3月
免费更换零件
24小时到现场
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