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当薄膜具有压应力或拉应力时，测试仪测量板-薄膜复合体的变形率，并计算残余应力。
• 薄膜残余应力测量解决方案
特点
• X-Y轴的自动控制
• 使用薄膜曲率Stoney公式计算残余应力（能够测量非晶状态）
• 易于控制
注意事项
• 测量测试：电路板需要使用250±15um的硅片厚度，长度是宽度的10倍
• 薄膜厚度需小于电路板尺寸的1/50
规格
售后服务
1年
是
有
1次，根据需要可再协商
根据需要可协商
24小时响应
24小时响应
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残余应力测试仪信息由南京伯奢咏怀电子科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于残余应力测试仪报价、型号、参数等信息，McScience中国代表处客服电话：400-860-5168转1730，欢迎来电或留言咨询。
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