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D8 DISCOVER X射线衍射仪

报价 ¥300万 - 500万

品牌

布鲁克

型号

D8 DISCOVER

产地

欧洲德国

应用领域

共5个

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪,带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下,对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。

应用范围:

  • 定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析

  • X射线反射法、掠入射衍射(GID)、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析

  • 残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射(WAXS)

  • 总散射分析:Bragg衍射、对分布函数(PDF)、小角X射线散射(SAXS)


薄膜分析


X射线衍射(XRD)和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析:

  • 掠入射衍射(GID):晶相表面灵敏识别及结构性质测定,包括微晶尺寸和应变。

  • X射线反射率测量(XRR):用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。

  • 高分辨率X射线衍射(HRXRD):用于分析外延生长结构:层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。

  • 应力和织构(择优取向)分析。



材料研究

XRD可研究材料的结构和物理特性,是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件,可为您带来优异的性能和充分的灵活性,同时让研究人员对材料进行细致入微的表征:

  • 定性相分析和结构测定

  • 微米应变和微晶尺寸分析

  • 应力和织构分析

  • 粒度和粒度分布测定

  • 使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析

  • 倒易空间扫描



筛选和大区域扫描

涉及高通量筛选(HTS)和大区域扫描分析时,D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持,D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异:

  • 孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选(HTS)

  • 对最/大300 mm的样品进行扫描

  • 安装和扫描重量不超过5kg的样品

  • 自动化接口


微焦源IμS

配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束,非常适合小范围或小样品的研究。

  • 毫米大小的光束:高亮度和低背景

  • 绿色环保设计:低功耗、无耗水、使用寿命延长

  • MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度

  • 与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。


UMC样品台

D8 DISCOVER提供了许多UMC平台,具有全新的样品扫描和重量容纳能力:

  • 可对重达5 kg的样品进行扫描

  • 大区域映射:最/大300mm的样品

  • 支持高通量筛选(HTS)的UMC样品台,最多支持三个孔板。

考虑到其高度的模块化性能,该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。


多模EIGER2 R检测器

EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。

  • 先进的传感器设计,包括第二代性的EIGER:最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素,可实现微观分辨率的宏观覆盖。

  • 符合人体工程学的设计:轻松即可根据应用需求,调节探测器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。

  • 全景光学器件和附件,视野开阔。

  • 0D、1D和2D操作模式:支持快照、步进、连续或高级扫描模式。

  • 可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。


TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics

得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换:

  • 用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何

  • 用于毛细管,GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何

  • 用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何

PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器,并可在以下之间切换:

  • 电动狭缝:用于高通量测量

  • 分光晶体:用于高分辨率测量

使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER,无需重新配置,在环境条件下或非环境条件下,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所类型尽在掌握。


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