仪器对比
关注
国产
- 相对误差±2.5%（1微米厚度）
- 可支持至多四层检测
XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
西凡镀层测厚仪XF-P1产品特点
元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)
可支持四层检测
可同时支持镀层厚度和成分检测
检出限：5nm(厚度)，5ppm(成分)
检测精度：相对误差±2.5%(1um厚度）
定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集
遵守GB/T16921, ISO3497:2000, ASTM-B658标准。
铅玻璃窗口，方便观察样品
西凡镀层测厚仪XF-P1测试案例
售后服务
7天
2年
安装调试现场免费培训
是
是
软件终身免费升级
西凡镀层测厚仪XF-P1信息由西凡仪器（深圳）有限公司为您提供，如您想了解更多关于西凡镀层测厚仪XF-P1报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
相关产品
