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- 3~55mm
- ±2 µm
- 0.1 µm
- 数字输出、模拟输出
英国真尚有_光栅尺 | 微米级光栅尺 | AE0x
AE0x微米级光栅尺设计用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。
主要特点：
◇ 0.1 µm 分辨率
◇ 最高±2 µm 精度
◇ 测量范围从 3 到 55 mm
◇ 可应用范围广，对被测物本身无限制（低反射率、镜面、透明……都不影响）
◇ 绝对测量的创新技术
◇ 增量编码器信号的仿真
应用领域：
技术规格：
售后服务
45天
1年
额外提供免费培训
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