原位拉伸
国产
材料
产品简介
通过纳米探针对样品施加电场控制,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。
我们的优势
纳米探针操纵系统
1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。
2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。
优异的电学性能
特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。
智能化软件
1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。
2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。
技术参数
类别 | 项目 | 参数 |
基本参数 | 杆体材质 | 高强度钛合金 |
控制方式 | 高精度压电陶瓷 | |
倾转角 | α≥±20°,β≥±20°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号) | |
适用电镜 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
适用极靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP | |
(HR)TEM/STEM | 支持 | |
(HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
1年
是
有
免费上门培训1次
1年1次
免费上门维修
3个工作日内到达现场开始维修
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