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- 定制温箱
- 1~240 颗
- +10℃～+150℃
闪存芯片智能测试系统FT-N200是一款可量身定制测试方案的综合闪存测试系统，系统可提供高温测试环境，并行测试闪存颗粒种类最多可达30种，并行测试闪存颗粒数量最多可达240 颗。
闪存芯片智能测试系统FT-N200 支持多种测试 pattern及自定义测试参数功能，提供一键式基础测试流程、高灵活性的实验测试及高阶测试流程，可以实现闪存颗粒剩余寿命预测、实测、数据保持和读干扰等多种功能性测试，帮助用户检验闪存颗粒的可靠性状态，完成测试后可以方便快捷地一键导出测试报告，为用户提供最直观的图形化测试数据，为闪存颗粒等级分类和应用提供最精确的参考依据，并基于闪存颗粒品质检测结果实现智能分级。
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