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TESCAN TENSOR
高度集成、旋进辅助的分析型 4D- STEM
TESCAN TENSOR 是一款中等加速电压、近超高真空的集成 4D-STEM， 用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性，具有出色的4D-STEM 性能和前所未有的普遍适用性。
测量功能:
TESCAN TENSOR 为材料科学家、半导体研发和失效分析人员以及晶体学家提供了众多已预设的STEM、4D- STEM和断层扫描测量的参数:
Ø STEM BF, ADF 和 HAADF 成像
Ø STEM 晶格像
Ø 成分 (能谱分析和元素面扫)
Ø 取向 / 物相分布成像
Ø 应力分布图
Ø 虚拟 STEM
Ø STEM 和 EDS 重构
Ø 衍射重构
性能:
TESCAN 从零开始开发了全新的 TENSOR，优化了STEM 扫描的同步功能：
Ø 混合像素的直接电子衍射相机衍射成像
Ø 2个无窗EDS探测器(2个大立体角)进行快速地能谱采集
Ø 快速，旋进电子束频率高达 72kHz
Ø 一体化的静电束闸
Ø 近实时4D-STEM数据分析、处理和可视化软件(TESCAN Explore)
Ø 都集成在模块化、中高压、近超高真 (样品区域真空达到10-6 Pa) 的肖特基场发射电子枪上
可用性:
TESCAN TENSOR 是一台可以像扫描电镜一样易于使用的STEM。它可以让使用者把时间花在样品分析上，而不是浪费于参数调整。新手用户只需要最少时间的训练，就能很快获得结果。有经验的用户可以使用选配的 API 开发适合自己的测量功能，并通过 HyperSpy、LiberTEM 或 y4DSTEM 等开放平台的解决方案导出 TENSOR 4D- STEM 的数据集进行离线处理。
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