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Thorlabs 多模光纤跳线 弱自发荧光
特性
弱自发荧光*(AF)光纤跳线，具有纤芯Ø400 µm、数值孔径0.50的多模光纤
非常适合具有GFP(激发波长470 nm)和RFP(激发波长565 nm)的光纤光度学应用
接头选项：
带样品的一端为FC/PC接头、Ø1.25 mm(LC)插芯或Ø2.5 mm(FC)插芯
不带样品的一端为FC/PC接头
黑色护套zui大程度地减少光泄漏
跳线长度1 m
可根据要求定制跳线，详情请联系技术支持
这些多模光纤跳线采用可减少发出可见光波段自发荧光的元件制造，非常适用于光纤光度学应用。在这些应用中，需要高灵敏度来测量指示样本内神经活动的荧光的变化。这些跳线的设计基于对裸纤、插芯类型和环氧树脂等跳线组件自发荧光特性的广泛研究。
每根跳线集成了纤芯Ø400 µm、数值孔径0.50的多模光纤(型号FP400URT)，具有三种接头配置。跳线的一端为FC/PC接头，而另一端则为FC/PC接头、Ø1.25 mm不锈钢插芯或Ø2.5 mm不锈钢插芯。与我们标准的光遗传学光纤跳线相似，带插芯端的跳线可以通过互连件或匹配套管接合光纤针头。
每根跳线都带有两个保护帽，防止插芯端在不使用时受到灰尘污染或其他伤害。其他用于接头和插芯端的塑料保护帽、金属保护帽或螺纹保护帽都在这里单独出售。如果使用过程中光纤终端受到污染，我们也提供检查工具和光纤清洁用品。
光漂白
为了在实验过程中获得最佳性能，弱自发荧光跳线在使用前应进行光漂白测试。该过程使光纤和跳线组件中的荧光团饱和，从而最大限度地减少自发荧光的发射。因为自发荧光最终会在光漂白后恢复到稳态值(如图所示)，每次在实验中使用跳线时都应重复此过程。有关所需设备和测试过程的更多信息，请看光漂白标签。
在产品测试过程中，我们比较了弱自发荧光跳线与标准跳线的自发荧光恢复能力。右图显示了在36天的时间内测得的每个测试跳线相对于输出功率的自发荧光。我们观察到，弱自发荧光跳线经过光漂白后具有较低的自发荧光比率，并且在测试期间，自发荧光恢复较慢。
匹配套管和跳线兼容性
跳线和针头的插芯直径紧密关系到互连件和匹配套管的兼容性。使用Ø1.25 mm(LC)插芯的针头和跳线可以通过ADAL1匹配套管或ADAL3互连件连接。使用Ø2.5 mm(FC)插芯的跳线和针头兼容ADAF1匹配套管和ADAF2互连件。
*在470 nm和565 nm的激发波长下测试并验证弱自发荧光。其他波长下激发时性能可能不同。
多模光纤跳线 弱自发荧光 MAF1L1 光学仪器
1年
否
有
免费培训
每年免费保养1次
除人为原因外，免费维保
24小时内到达现场
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