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XU-100 X荧光光谱测厚仪
高精尖检测技术，搞定企业品质管控！
XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。 检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm²，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。
应用行业：
电镀层分析
紧固件行业
五金行业
汽车零部件
配饰厚度分析
电子元器件
……
常见样品：
紧固件 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe
五金制品 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe
电子元器件 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
配饰首饰 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu
散热片NiP/Al
……
为什么选择XU-100？
1.下照式设计
可以快速方便地定位对焦样品。
2.高精密微型移动滑轨
快速精准定位样品。
3. 微焦X射线装置
最小检测面积可达0.2mm²的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。
高效率正比接收器即使测试0.2mm²的样品，几秒钟也能达到稳定性。
4. 变焦装置算法
可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。
5.先进的EFP算法
多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。
最小检测面积可达0.01mm²
凹槽深度范围0-30mm
移动精度10μm
最近测距光斑扩散度10%
30天
1年
额外提供免费培训
不支持
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