1MHZ介电常数ASTMD150测试仪HRJD-A

报价 ¥2万

品牌

红日仪器

型号

HRJD

产地

中国大陆北京

应用领域

暂无

1MHZ介电常数ASTMD150测试仪HRJD-A依据国标GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法、GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的z佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。


1MHZ介电常数ASTMD150测试仪HRJD-A介电常数又叫介质常数,介电系数或电容率,它是表示绝缘能力特性的一个系数,以字母ε表示,单位为法/米(F/m)
定义为电位移D和电场强度E之比,ε=D/Ε。电位移D的单位是库/二次方米(C/m^2)。

某种电介质的介电常数ε与真空介电常数ε0之比称为该电介质的相对介电常数εr ,εr=ε/ε0是无量纲的纯数,εr与电极化率χe的关系为εr=1+χe。

真空介电常数:ε0= 8.854187817×10^-12 F/m

介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为相对介电常数(permittivity),

如果有高相对介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。
1MHZ介电常数ASTMD150测试仪HRJD-A电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料,和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质,并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质,其相对介电常数约为80。
1MHZ介电常数ASTMD150测试仪HRJD-A一个电容板中充入相对介电常数为ε的物质后电容变大ε倍。故相对介电常数εr可以用如下方式测量:首先在其两块极板之间为真空的时候测试电容器的电容C0。然后,用同样的电容极板间距离但在极板间加入电介质后侧得电容Cx。然后相对介电常数可以用下式计算

  εr=Cx/C0
电介质有使空间比起实际尺寸变得更大或更小的属性。例如,当一个电介质材料放在两个电荷之间,它会减少作用在它们之间的力,就像它们被移远了一样。

当电磁波穿过电介质,波的速度被减小,有更短的波长。

1MHZ介电常数ASTMD150测试仪HRJD-A时变电磁场,物质的介电常数和频率相关,通常称为介电系数。

Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;


概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;

仪器的技术指标

园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。

样品厚度可在 1--5mm 之间,样品太薄或太厚就会使测试 精度下降,样品要尽可能平直。 下面推荐一种能提高测试精确性的方法:准备二片厚 0.05mm 的圆形锡膜,直径和平 板电容器极片一致,锡膜两面均匀地涂上一层薄薄的凡士林,它起粘着作用,又能排除接 触面之间残余空气,把锡膜再粘在平板电容器两个极片上,粘好后,极片呈镜面状为佳, 然后放上被测样品。 

平板电容极片 Φ50mm/Φ25.4mm                         可选频率范围10KHz-60MHz/200KHz-160MHz

其他

本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

主电容调节范围: 30~500pF

中国检测行业与验证服务的间端者和智领者,帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

Q表正常工作条件

测试主机一台;

夹具一 套 

夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)

信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz

外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

工作特性 1. 平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ25.4mm (标配) 可选 极片间距可调范围:≥15mm 2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm 3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 4.测微杆分辨率:0.001mm 

配用 Q 表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的 Q 值变 化,可测得决缘材料的损耗角正切值。

BH916测试装置                                        GDAT高频Q表

电容直接测量范围:1~460pF 

用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。

型号频率指示误差:3*10-5 ±1

极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm

电感测量范围:14.5nH~8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到 决缘材料介电常数。



售后服务

7天

1年

安装调试现场免费培训

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