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用于材料科学的直接电子探测器

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品牌

德科特思 DECTRIS

型号

DECTRIS QUADRO

产地

欧洲德国

应用领域

暂无

进口

创新点
新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能,不断突破电子探测的极限。同时,这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度,而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。


       新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能,不断突破电子探测的极限。同时,这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度,而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。

产品介绍

       QUADRO采用完全由DECTRIS设计的全新EIGER2 ASIC驱动,以及我们具有专利保护的 INSTANT RETRIGGER® 技术,可在感兴趣区域(ROI)模式下提供 32 位动态范围和高达每秒18,000 帧的读数,无需图像叠加,无噱头!

核心优势 
— 直接电子探测
— 感兴趣区域模式
— 高达18,000帧每秒
— 无死区时间
— 无噪声电子计数
— 107光子计数/秒/像素
— 无需光束阻挡器
— 在低能量下仍然提供理想DQE

应用领域

— 电子衍射
— 4D-STEM
— 应力分析
— 洛伦兹显微镜术成像
— 叠层成像术
— 原位透射电镜
— 动态透射电镜 TEM
— LEEM/PEEM

技术规格

单像素尺寸 [μm2]

75 × 75

像素数 (W x H)

512 × 512

有效面积, W × H [mm2]

38.4 × 38.4

能量范围 [keV]

30 - 200

最大帧速率 (ROI, max.) [Hz]

9'000 (16-bit) 18'000 (8-bit)

帧速率 (ROI,max.) [Hz]

2'250 (16-bit), 4'500 (8-bit)

传感器材料

Silicon (Si)

DQE (0) 计数率 (max.) [el/s/pixel]

107

量子探测效率 DQE(0)

0.9 at 100 kV; 0.8 at 200 kV

DQE (0) 探测器安装位置

Bottom-mounted, on-axis

产品应用

TedPella铝蒸发料校准样品的衍射花样。QUADRO的动态范围能够解析出更高角度(大约0.82Å-1)微弱的衍射环,同时不需要遮挡透射束。支持收集样品含有的所有数据!

单体单层二硫化钼的高分辨率成像和衍射,即使采用配备QUADRO 探测器的常规透视电镜也能清楚地分辨出四角晶格,其衍射图案仅需要约2*105个电子和10ms的采集时间。QUADRO的成像速度比您实验室中环境干扰还快。因其具备高速和高灵敏度等优势,即使在漂移和干扰下,仍可采集高质量数据。 请升级您的显微镜,而非实验室!

售后服务

1年

免费现场培训

一年两次

保修期内人工与配件全包

24小时电话技术支持,如需上门3个工作日内到达用户现场

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