仪器对比
关注
样本下载
奥林巴斯BX53P偏光显微镜
奥林巴斯BX53P偏光显微镜具有鲜明的偏光成像，是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究，都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。
用于锥光镜检和正像镜检的勃氏镜
采用U-CPA锥光观察附件使锥光镜检和正像镜检之间的切换简单而快捷。可以清晰地对焦后焦平面的干涉图样。勃氏镜的视场光阑使其能够始终获取锐利而清晰的锥光图像。
无应力光学元件
UPLFLN-P无应力物镜得益于奥林巴斯*的设计和制造技术，将内部应力降到了zui低。这就意味着更高的EF值，从而可以得到的图像反差。
种类丰富的补色器和波长板
提供了六种不同的补色器，用于测量岩石和矿物薄片的双折射。测量光程差水平范围从0到20λ。针对更方便的测量和高图像反差， 可以使用B e r e k 和Senarmont补色器，它们能在整个视场内改变光程差级别。
各种补偿板的延迟测量范围 | ||
补偿板 | 测量范围 | 主要用途 |
U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 较大的延迟测量（R*＞3λ）。（结晶、高分子、纤维、光弹性失真等） |
U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延迟测量（结晶、高分子、纤维、生物体组织等） |
U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延迟测量（结晶、生物体组织等）对比度增强（生物体组织等） |
U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延迟测量（结晶、生物体组织等） |
U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延迟的近似测量（结晶、高分子等） |
*R表示延迟。
为提高测量精度，建议与干涉滤镜45IF546一起使用。（U-CWE2除外）
1年
否
有
免费培训1次
保修期内1次
免费（除人为损坏）
1小时内响应，48小时内到场
相关产品
