IMEXT FTA Fission Track Analysis System |
裂变径迹显微分析系统IMEXT FTA产品介绍
IMEXT FTA裂变径迹分析系统
Fission Track Analysis System
1、 裂变径迹技术原理 Fission Track Principle
矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。
裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA原理示意
裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA样品示意图
2、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System
系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备;项目化管理、流程化操作;主要用于矿物裂变径迹分析。
系统所配软件包,专为裂变径迹应用开发,可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄;可满足裂变径迹测量的各种需求。
设备图:
控制软件主界面图:
测量分析流程:
1) 新建样品项目,开始裂变径迹分析;或者打开已有样品项目,继续分析;
2) 样品全貌图扫描;
3) 样品光薄片/云母片定位;
4) 样品观察方式配置;样品拍照模式配置;
5) 目标颗粒选择;
6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描;
7) 目标颗粒裂变径迹参数测量;
8) 裂变径迹数据统计;
9) 专用裂变径迹分析报告;
3、 样品全貌图扫描 Sample MAP
系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片,生成样品全貌图;包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。
4、 样品定位&切换 Relocation & SWAP
系统支持样品粗定位和精细定位两种模式;确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。
Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时,需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析,需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位,让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察,该模块提供了记录功能,可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置,对目标颗粒进行重定位,方便下次观察和分析。
5、 智能显微镜控制 Digtal Microscope Control
系统支持智能显微镜控制,支持透射/反射、明场/偏光等观察方式,与样品位置Grain/Mice随动,支持智能光强管理,支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。
6、 目标颗粒选择 Object Grain Select
系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒,用于后续拍照和测量。
7、 自动目标颗粒扫描Auto Scanning/Snap
支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列,支持单颗粒超景深照片合成;支持多颗粒批量扫描,提高工作效率。
扫描过程照片自动抓拍、自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;提供图片浏览功能,可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能;
8、 径迹参数测量 Track Measurement
支持多种径迹参数的自动测量和人工测量,包含径迹数量、面积、最大,最小卡规直径及其比率等颗粒参数,且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。
9、 径迹统计&报告 Statistics&Report
支持多种径迹参数的标准统计,包含最大值、最小值、平均值、标准差等。
10、 数字薄片 Digital Slice
支持按照样品项目管理,扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化,方便长期保存和后期分析,以及数据追溯。
11、 用心服务放心使用
全面的服务在于您的需要不只是一件产品,而在于您的企业或科研发展的同时,有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您领先便是我们成功之处。
系统自问世以来,深受广大学及研究所等用户的信赖和支持;一旦获取,终生免费升级。
用户单位 | 采购时间 |
---|---|
北京中医药大学 | 2022-08-24 |
北方工业大学 | 2021-05-27 |
北京科技大学 | 2022-12-13 |
北京师范大学 | 2022-04-19 |
北京理工大学 | 2021-06-24 |
中国农业大学 | 2022-11-29 |
北京化工大学 | 2022-10-25 |
中国林业大学 | 2022-06-29 |
人民大学 | 2022-07-21 |
北京大学 | 2022-05-16 |
清华大学 | 2022-06-13 |
1年
是
有
2次使用技术培训
一年2次以上仪器免费保养
在质量保证期内,对由于设计、制造、工艺或材料的缺陷所发生的故障负责,并免费修理和
对用户反馈的质量问题及时给予解决,在24小时内做出处理决定
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