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Optotherm Sentris ---高分辨率热成像无损缺陷定位系统
是一款高分辨率热成像无损缺陷定位系统,通过锁相信号处理技术和强大的算法软件,将异常点的微弱发热提取出来,达到0.001 ℃的温度分辨率,以及最低约5uw的检出限,5um的高分辨率定位。
无损分析---不破坏样品
系统具有超高灵敏度,无需对样品进行预处理,只需给样品上微弱的电流即可实现定位,对于样品量较少,已封装或封胶的产品,可以做到不需要开封或去胶就能无破坏定位,而对于PCB,则不需要传统方法的割线或切割等。
深圳市立特为智能有限公司(Shenzhen Leaderwe Intelligent Co., Ltd)作为OPTOTHERM中国区总代理,于2016年设立联合实验室,提供设备销售,验证,服务,技术支持等。
30天
1年
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