可见
CCD
国产
200-1100nm
最优~0.35nm(由光栅和狭缝共同决定)
1000:1
100000:1
UV-VIS面阵制冷光谱仪 YSM-8104
简介
YSM-8104系列高性能TE制冷型光谱仪,采用了滨松公司先进的背照薄片式制冷型面阵CCD,提供1024像素和2048像素两个版本,
具有非常好的科研级灵敏度。其优化的低噪声电路系统,采用了18位A/D转换器,再配合优秀的CT光学机械结构,大大提升了光
谱仪的性噪比、灵敏度以及热稳定性,非常适合拉曼和荧光等弱光谱信号的测量。YSM-8104系列采用了可更换狭缝设计,一台
光谱仪可以配置多种不同宽度的狭缝以满足不同分辨率和灵敏度的光谱测量需求。其波长范围和光学分辨率均可独立配置,支持
二次开发、触发控制,并可根据您的需求对光谱仪作深度定制。YSM-8104-07系列光谱仪,采用了滨松S7031-1006s系列1024x58
像素的背照式制冷面阵CCD,其像元尺寸达到24µm×24µm,具备非常好的灵敏度。YSM-8104-08系列光谱仪,采用了滨松
S10141-1107S-01系列2048 x 122像素的背照式制冷面阵CCD,更多的像素带来更好的像元分辨率。
特点
滨松背照薄片式制冷型面阵CCD,信噪比1000:1
18位A/D转换,动态范围100000:1(典型值)
可更换狭缝设计,5µm,10µm,25µm,50µm,100µm,200µm
1024像素和2048像素两个版本可选
像元尺寸可达24µm×24µm
交叉非对称C-T光路结构,干涉滤光片消二级衍射
SMA905光纤接口,方便地通过光纤和其他设备连接
可定制的波长范围和光学分辨率
USB 2.0数据传输和供电,支持RS232/RS422通信,支持多种触发方式
软件功能强大,可自动计算峰值波长和带宽功能
支持二次开发和深度定制
应用
拉曼光谱测量
荧光光谱测量
UV-VIS弱光谱测量
CCD量子效率曲线
典型测试数据:
技术参数
30天
1年
额外提供免费培训
48小时内
是
2天内
否
45天
15
否
否
否
是
否
是
先维修后付款
技术参数
不支持
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