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原子力显微镜，YMP-6114
描述
原子力显微镜（AFM）采用对微弱力极其敏感的微悬臂作为力传感器（微探针），利用针尖与样品之间相互作用的原子力，最终获得样品表面的微观形貌。YMP-6114原子力显微镜采用特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动，使仪器性能更加稳定可靠。
特点
特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动
稳定的三轴压电扫描器，保证扫描图像的保真与快速成像
优化的检测与控制系统，获得更高的扫描分辨率、更好的重复性和更佳的图像质量
完善的软件界面与功能，支持三维立体成像与纳米标注
操作便捷、高速扫描、高稳定性与抗干扰能力
应用
同时适用于科学研究、本科生和研究生的教学实验及纳米技术产品的检测，广泛适用于各种金属/非金属、导体/非导体、磁性/非磁性材料样品的扫描检测。
典型测试数据
30天
1年
额外提供免费培训
48小时内
是
2天内
否
45天
15
否
否
否
是
否
是
先维修后付款
技术参数
不支持
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