麦奇克莱驰 纳米粒径分析仪 NANOTRAC WAVE II / Q / ZETA
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180° 反向散射 DLS 设置
稳定的固定光学样品接口——无需调整
快速磁场反转可防止电渗
作为功率谱比函数的稳健迁移率计算
高浓度zeta电位测量
样品浓度和分子量测定
通用溶剂兼容性
频率功率谱计算模型代替PCS
激光放大检测-高信噪比
胶体系统的精确测量所有Nanotrac Wave II系列分析仪均使用相同的新型探针技术进行DLS测量。利用我们的激光放大检测方法，为所有类型的材料提供可重复和稳定的粒度测量。 Nanotrac Wave II系列还可以通过使用功率谱和产生的负载指数来计算样品浓度。根据分布计算，浓度将以适当的单位显示，如cm3/ml或N/ml。也可以通过流体动力学半径或德拜图计算分子量。 Nanotrac Wave II颗粒分析仪具有多个不同尺寸的可重复使用样品池。有一个标准的和微型的特氟隆电池，用于各种材料。对于较难清洁的样品，有标准体积的不锈钢电池和大体积的不锈钢电池。 Nanotrac Wave II Q粒子分析仪还具有多种标准反应杯尺寸，以适应多种不同类型的材料。有聚苯乙烯、玻璃和不锈钢制成的反应杯，尺寸从50µl到3 ml不等。 Nanotrac Wave II Zeta粒子分析仪有一个特殊的可重复使用的Zeta电池，带有一个用于运行Zeta电位测量的电极。Wave II所列的样本单元也与zeta模型兼容。
纳米颗粒和ZETA电位分析的理想选择
NANOTRAC WAVE II粒度分析仪中的zeta电位测量采用了与测量纳米粒度分布相同的频率功率谱方法。同样稳定的光学样品接口意味着无需调整。在测量粒径时，收集反向散射和激光放大的检测信号，应用电场的快速排序可防止电渗。光学探针表面被涂覆以提供与样品的电接触。使用两个探针，一个用于确定滑动面上粒子电荷的极性，另一个用于测量粒子在电场中的迁移率。极性是在脉冲电场中测量的，而迁移率是在高频正弦波电场激励下测量的。zeta电池的两侧有两个探测探针，用于探测极性和迁移率。 根据线性频率功率谱分布（PSD），可以计算与颗粒浓度成正比的负载指数（LI）。负载指数值为总散射提供了一个单一数字，可用于确定微粒的迁移率（微米/秒/伏/厘米）和微粒极性（正负）。 测量迁移率和zeta电位首先测量PSD，并在激发关闭的情况下确定LI。然后在高频正弦波打开的情况下测量PSD，并取一个比率。通过测量脉冲直流激励前后的LI来确定极性。对于带正电的探针表面，激发后的LI除以激发前的LI的比值小于1表示正极性（浓度降低），大于1表示负极性（浓度升高）。
Mobility = C x (ratio of [PSD(on) – PSD(off)] / LI(off)
Zeta电位∝ 流动性
典型应用多功能性是动态光散射 (DLS) 的一大优势，这使得该方法适用于研究和工业中的各种应用，例如药物、胶体、微乳液、聚合物、工业矿物、油墨等等。
药品
油墨
life sciences
陶瓷
饮料 & 食物
胶体
聚合物
microemulsions
化学品
化学试剂
环境
粘合剂
金属
工业矿物
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技术参数| 计算方法 | 背散射激光放大散射参考方法 |
| 计算模型 | FFT功率谱 |
| 测量角度 | 180° |
| 测量范围 | 0.3 nm - 10 µm |
| 样品池 | NANOTRAC WAVE II：各种样品池选项 NANOTRAC WAVE II Q：各种比色皿 |
| Zeta电位分析 | 是 |
| Zeta测量范围（电位） | -200 mV - +200 mV |
| Zeta测量范围（尺寸） | 10 nm - 20 µm |
| 电泳流动性 | 0 - 15 (µm/s) / (V/cm) |
| 电导率测量 | 是 |
| 电导率范围 | 0 - 10 mS / cm |
| 分子量测量 | 是 |
| 分子量范围 | <300 Da -> 20 x 10^6 Da |
| 温度范围 | +4°C - +90°C |
| 温度精度 | ± 0.1°C |
| 温度控制 | 是 |
| 温度控制范围 | +4°C - +90°C（样品池） +4°C - +70°C（PE比色皿） +4°C - +90°C（玻璃比色皿）。 |
| 滴定法 | 是 |
| 可重复性（尺寸） | =< 1 |
| 可重复性（Zeta） | + / - 3% |
| 样品体积大小测量 | 50 µl - 3 ml |
| 样品体积Zeta测量 | 150 µl - 2 ml |
| 浓度测量 | 是 |
| 样品浓度 | 高达40％（取决于样品） |
| 载体流体 | 水、极性和非极性有机溶剂、酸和碱（与WAVE II Q的比色皿不同）。 |
| 激光器 | 780纳米，3毫瓦；2个带泽塔的激光二极管 |
| 湿度 | 90 %不凝结 |
| 设备尺寸（宽x高x深） | 355 x 381 x 330 mm |
纳米颗粒尺寸分析仪NanoRAC WAVE II、WAVE II Q和WAVE ZETA的光学工作台是一个包含光纤和Y型分离器的探头。激光聚焦在探头窗口和色散界面处的样品体积上。高反射率蓝宝石窗口将一部分激光束反射回光电二极管检测器。激光也穿透色散，粒子的散射光以180度的角度反射回同一探测器。 来自样品的散射光相对于反射的激光束具有较低的光信号。反射的激光束与来自样品的散射光混合，将激光束的高振幅与原始散射信号的低振幅相加。这种激光放大检测方法的信噪比是光子相关光谱（PCS）和纳米跟踪（NT）等其他DLS方法的106倍。 激光放大检测信号的快速傅里叶变换（FFT）产生线性频率功率谱，然后将其转换为对数空间，并进行反褶积以给出最终的粒度分布。与激光放大检测相结合，该频率功率谱计算提供了所有类型的粒径分布（窄、宽、单峰或多峰）的稳健计算，无需像PCS那样的先验信息进行算法拟合。 Microtrac颗粒分析仪中使用的激光放大检测方法不受样品中污染物引起的信号畸变的影响。经典的PCS仪器需要对样品进行滤波或创建复杂的测量方法来消除这些信号畸变。
1、检测器；2、激光；3、反射激光；4、悬浮颗粒；5、在探针尖端和流体的界面上开发了控制参考
从功率谱迭代粒度计算
1. 预估尺寸分布 | 2. 计算预估的粒径 | 3. 计算粒度误差| 4. 正确预估分布| 5.重复1-4直到误差最小| 6. 最小误差分布最佳拟合
1年
是
有
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