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SOC750-MW系列是一款快速、实时的MWIR高光谱成像系统。可以 用于机器视觉、精准农业 、生物医药 、国防安全 、遥感科学等研究工作。
基于高速HgCdTe/MCT或InSb焦平面阵列探测器、高速扫描系统、高质量的成像光谱仪、以及功能强劲的标定和分析软件HSAnalysis，SOC750-MW可以在2-5μm范围内以27Cubes/s的速度进行高光谱图像测量，光谱分辨率为48～73nm。所测数据可以由第三方软件读取及分析。
SOC750成像光谱仪包括实时高光谱成像处理器，采用的SOC公司专有的高性能HSAnalysis3软件，软件具有图形用户友好界面。
技术指标
型号 |
SOC750-HB |
SOC750-HR |
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主要特点 |
高亮度 |
高分辨率 |
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检测器 |
锑化铟(InSb) |
锑化铟(InSb) |
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空间像素 |
256*240 |
512*512 |
|
光谱范围 |
2-5µm |
2-5µm |
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光谱通道 |
42 |
64 |
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光谱带宽 |
0.073µm |
0.048µm |
|
测量速度 |
11c/s@256×240×42 30c/s@160×144×42 |
2c/s@512×512×64 24c/s@128×146×64 |
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FPA阱容 |
20Me‑ |
5Me‑ |
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探测器像距 |
30µm |
20µm |
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IFOV@50mm |
0.6mr |
0.4mr |
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测量温度 |
1250°C |
1100°C |
1年
否
无
1人次技术培训
1年一次
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