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Co-Aligned HP VNIR-SWIR全波段机载高光谱成像仪

报价 ¥200万 - 450万

品牌

HeadWall

型号

Co-Aligned HP

产地

美洲美国

应用领域

暂无

      Co-Aligned HP 高光谱成像仪的光谱范围为400-2500nm,即一台设备直接覆盖可见光到短波红外的光谱范围。集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪,其中,VNIR (400-1000nm)的感光元件为低功耗,高灵敏度的 CMOS传感器,像元尺寸为5.86μm,SWIR(900-2500nm)的感光元件为Stirling制冷型MCT传感器,像元尺寸为15μm,而分光光路均基于Headwall公司专利技术——Offner像差校正型凸面全息反射光栅技术,不仅保证了极低杂散光和成像畸变,同时也具有极高的热稳定性和信噪比。

       另外,Co-Aligned HP结构紧凑,是一套完整的Turnkey解决方案,重量仅为4.0kg,内部除了集成有高光谱成像仪外,同时集成有高精度GNSS/IMU模块和嵌入式采集控制模块,高光谱数据和姿态信息可同时保存在SSD中,系统配有大尺寸反射率定标毯,尺寸为3*3m,包含三种梯度反射率,可通过SpectralView后处理软件对数据进行批量辐射校正,反射率校正和几何校正等。

      Co-Aligned HP让用户无需再考虑复杂的硬件系统集成,专注于飞行计划的制定和高光谱数据的后期处理。

主要特点:


  1. 双探测器,光谱范围覆盖400-2500nm

  2. 推扫式成像,可上传KML文件,基于地理位置触发采集

  3. 反射分光,像差校正光路设计

  4. 原刻全息反射光栅

  5. 高精度IMU/GNSS,支持后差分处理

  6. 用户可选配激光雷达,同步采集地形点云数据

  7. 内部集成有采集控制模块,内置SSD

  8. 专用三轴稳定云台,重量仅为1.5kg,快拆结构

  9. 批量辐射校正,反射率校正,支持第三方DSM进行几何校正,图像镶嵌



售后服务

90天

12月

额外提供免费培训

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