JW-TB400电池研发专用 BET比表面积仪（平行12站）
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概述
TB系列比表面积及孔径分析仪，是北京精微高博科学技术有限公司最新推出的表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的仪器。该仪器采用最常用、最可靠的静态容量法气体吸附法分析材料的吸附行为。测试过程中多个样品共用同一杜瓦瓶同一气源进行测试分析，保证分析测试的准确性和重复性，真正实现多站间无差异化分析。
数据分析
完整的物理吸附计算模型供灵活选择，包括：
-等温吸脱附曲线；
-BET比表面积（单点、多点）；
-Langmuir表面积；
-外表面积（STSA）；
-BJH孔径分析；
-t-plot分析；
-DR、DA、MP方法；
-HK孔径分析；
-SF孔径分析；
-NLDFT孔径分布；
-最可几孔径、平均孔径、总孔体积；
-吸附曲线、吸附热计算，等等
性能参数
售后服务
30天
1年
安装调试现场免费培训
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