半导体推拉力测试机是一种采用插拔传感器模块的推拉力机

报价 ¥10万

品牌

Hinds Instruments

型号

TEST4000

产地

中国大陆广东

应用领域

暂无
  • 自动测试
  • 100g
  • 250g
  • 10kg
  • 0-20kg
  • 0-200kg
  • 插拔式模块
  • 定制X1
  • 高清CCD
  • 实时显示
  • 支持
  • 支持
  • 支持
  • Excel
  • 智能防呆滞
  • 自动停止
  • 半导体推拉力测试
  • 芯片推力测试
  • 金球推力测试
  • 金线拉力测试


TEST系列多功能半导体推拉力测试机是一种采用插拔传感器模块的推拉力机。它可以测试MCM封装的推拉力性能,确保各个芯片之间的连接稳固可靠。 该设备采用了AST自动挡技术技术和VPT垂直定位技术,测试传感器采用自动量程设计,分辨率高达0.0001克。

9B12,IC封装推拉力测试,断裂力学测试光通讯封装测试机固晶焊接剪切力测试机芯片垂直拉力测试.jpg

推拉力测试机是一种用于力学领域的物理性能测试仪器,可以应用于多个行业和材料。它可以用于测量各种材料的强度、弹性模量、屈服点、断裂韧性、延展性等力学性能参数。推拉力测试机可以用于芯片推力测试,金球推力测试和金线拉力测试 。

4,4B9光通信TO46焊球推力测试,其他弹性体测试,封装测试,晶片推力测试,导线拉力测试.jpg

智能LED灯光系统:当设备空闲状况下,照明灯光自动熄灭,人员操作时,LED照明灯自动开启;LED灯光亮度可调节,减少光源对视力的损伤、疲劳。

智能防呆滞功能:每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统,触底时设备自动停止并提醒测试人员。

二段限速功能:在推刀/钩针在下降到一定高度时,可以安全平缓地软着陆降到指定测试位置。

2,TEST4500-12,pos元器件芯片测试,剥离测试,COB大功率封装测试,金球推力测试,光通讯TO61封装测试.jpg

自动化测试:点击测试按钮,设备自动测试,无须人为干预,避免人为操作引起的数据偏差。

测试参数设置:产品参数、合格力值、测试速度、测试行程、剪切高度、测试结束回位方式...等均可根据需求调节。

插拔式模块:采用插拔式模块,可配置多个传感器模块,适应功能强大;


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