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广皓天GHT小型恒温恒湿箱GHTA-50PF
小型高低温试验箱低温下测试电子的测试方案可以参考以下步骤：
在试验箱可调的范围内，选取高标称温度和低标称温度，将试验箱按先低温后高温的程序运行，在试验空间的中心点的温度达到测试温度并且保持恒定2小时，在30分钟内每一分钟测试所有测试点的温度1次，共30次。
2. 在试验空间内定出上、中、下三个水平测试面，简称上层、中层、下层。上层工作室的顶面的距离是工作室高度的十分之一，中层通过工作室几何中心，下面在低层样品架上方10毫米处。测试点位于三个此时面上，中心测试点位于工作室几何中心，其余测试点在工作室壁的距离为各自边长的十分之一，但对工作室容积不大于1.3米的试验箱，高距离不小于50毫米。
3. 测试点的数量与工作室容积大小的关系为：
3.1、工作室容积不大于2m³时，温度测试点为9个。
3.2、工作室容积大于2m³时，温度测试点为15个。
3.3、当工作室容积大于50m³时，温湿度测试点的数量可以适当增加。
4. 在样品断电的状态下，先将温度下降到-50℃保持4个小时。请勿在样品通电的状态下进行低温测试，因为通电状态下，芯片本身就会产生+20℃以上温度。所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。
5. 开机对样品进行性能测试，对比性能与常温相比是否正常。
6. 进行老化测试，观察是否有数据对比错误。
7. 升温到+90℃保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后执行上述2、3、4步骤。
8. 高温和低温测试分别重复10次。如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态则视为测试失败。
以上方案仅供参考，如有需要广皓天GHT小型恒温恒湿箱GHTA-50PF的更多建议垂询我们客服。
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