产品简介
GTEM室射频辐射抗扰度测试系统是凌世根据IEC61000-4-3标准要求基于GTEM技术开发的射频抗扰度预测试系统,全系统性能可靠,操作便捷,测试效果堪与暗室比拟,目前已广泛应用于电力、通信、军工、质检等领域,为评定小型电子设备对辐射电磁场干扰敏感性建立有力的测试依据。
符合标准
IEC61000-4-3 IEC61000-4-20 GB/T17626.3 GB/T17215系列
5年
是
有
最多20人次
1年一次
所有非人为故障,均在保修范围之内
24小时到达故障现场,48小时内解决故障
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