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X射线荧光光谱仪FEDX-M810：
一、技术规格：
1.分析元素范围：Na(11)-U(92)
2.含量分析范围：1ppm-99.999%
3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等
4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）
5.X射线源靶材：Ag靶
6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)
7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。
8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。
9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。
10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。
二、核心硬件配置：
1. 探测器
1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier
1.2. 分辨率≤130eV
1.3. 输出计数率高至1000KCPS
1.4. 峰化时间≤12.8μs
1.5. 峰背比>18000
2. X射线源
2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调
2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调
2.3. 最大功率50W
3. 高压发生器
3.1. 电压0 -50 KV
3.2. 电流0-1000uA
3.3. 最大功率50 W
3.4. 8小时稳定性≤0.05%
20天
1年
安装调试现场免费培训
到货后7天内
2小时内
是
3天内
否
7天
否
是
是
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