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平板探测器
平移一旋转(TR)方式
微米级
最高可达50mm（等效钢厚度）
4μm
直径770mm，高1350mm
4.5 + L/ 50
50Kg
宽 = 1810 长 = 3700 高 = 2440
基于蔡司METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精确性的高要求。
第三代新款蔡司METROTOM 1500
面向未来的质量控制——今天
十二年来，蔡司METROTOM系列一直为质量控制提供可靠的CT技术。第三代计算机断层扫描（CT）系统蔡司METROTOM 1500极好地证明了先进可靠的X射线技术不再是未来的愿景。今天，您可以使用面向未来的质量控制。
看得更多。
在第三代系统中，新的3k检测器可生成更高分辨率的3D体数据集，即更多体素可以检测到更小的缺陷。
扫描更快。
通过检测器的不同操作模式，扫描时间可减少多达75％，同时获得与2k检测器相当的体素尺寸。
1年
是
有
1次
详谈
保内免费维修
48小时抵达现场
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