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薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪
薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪是一种专门用于测量薄膜、薄片等材料厚度的仪器，广泛应用于塑料薄膜、纸张、金属箔、硅片、电池电极等材料的厚度检测。
测试原理
通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。测量头在一定压力下接触薄膜表面，传感器读取测量头的位移变化，从而得出薄膜的厚度值。
薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪产品特征
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
5寸触摸屏操控，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据
薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪技术参数
菜单式界面: PVC操作面板
分 辨 率: 0.1μm
测量范围: 0～2mm；0～6mm，12mm（可选）
测量速度: 10次/min（可调）
测量压力: 17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积: 50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）
电 源: AC 220V 50Hz
外形尺寸: 300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)
净 重: 33kg
执行标准: GB 6672、GB/T 451.3-2002等
仪器配置: 主机、微型打印机、标准量块等
测试标准
该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
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