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光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL 介紹
目前 LED 发展所面临的挑战包含：
(1) 新型态的 LED 具备低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰减快的特性
(2) 发光半宽（FWHM）较传统 LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯体 (Non-Lambertian) 分布，使得辉度 (cd/m2) 换算 EQE 时误差很大
(4) 发光波长超过视函数波段 (可见光范围)，无法以光通量与辉度评价
其中「衰减快」与「红外发光的准确评价」，是与转换效率高低最息息相关，因此光焱科技推出 LQ-50X-EL，采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件并拥有简便的设计可与手套箱直接整合。
特色
光焱科技电致发光效率测试系统LQ-50X-EL的特色如下：
*采用单光子侦测技术，克服传统光谱仪在低亮度需要长曝光时间 (1~3秒) 的特征，加快测试速度，以确保测试的准确性与高效率。
*采用 NIR 增强光学设计与组件，使其涵盖波长可达到 1100 nm，更可扩展到 1700 nm。
*设计简便，并且可与手套箱直接整合，同时对于各种样品形式都可以做很好的适配。
LQ-50X-EL 可快速测试每个电压下的发光光谱，并可取得辐照度、辉度、CIE坐标等多项参数值，实测无机 LED 测试量测不重复性小于 0.2 %。
LQ-50X-EL 为 NIST 溯源，与国外校正的白光与绿光 LED 比对，差异值小于 0.5 %。
规格
标准配置：
*全向式收光系统 (50 mm 积分球)
*增强型多信道光谱仪测试系统
*探针系统
*量测软件
*工控机与屏幕
选配规格：
*红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)
*手套箱整合套件
应用范围
光焱科技 电致发光效率测试系统 LQ-50X-EL 可用于：
*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
*Organic IR LED
*QD LED / QD Laser Diode
*VESEL Laser Diode
实证
量测结果总览
1年
否
有
有
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