热反射面内热导率测量系统基于“泵浦-探测”原理,采用空间域热反射法(Spatial Domain Thermal Reflection,缩写为:SDTR),能够准确测量从薄膜到块体材料的完整的面内热导率张量。系统自动化程度高,操作简便,特别适合大批量快速测量。
可测量完整的面内热导率量
各向同性材料热导率测量高性价方案
结构紧凑
可靠性高、免维护
现代工业中,亚毫米级小尺寸样品热物性测量的需求激增。常规热导率测量技术如激光闪光法、平面热源法、稳态法无法满足亚毫米级小尺寸样品的测量需求。该测量系统基于热反射原理,采用高度聚焦的连续波激光进行测量,为准确测量亚毫米级小尺寸样品的热物性提供了一个易于操作、性价比高的解决方案。
系统原理
空间域热反射技术(SDTR)主要是基于“泵浦-探测”技术和光热反射技术。其的原理为:使用探测光束对以固定频率周期性调制的泵浦光斑加热区域进行空间扫描探测(或固定探测光斑,扫描泵浦光斑),利用光热反射原理测量样品表面温度场的振幅和相位的空间分布信息,进而对传热模型进行拟合,zui终得出样品的(纵向、及面内)热导率等热物性信息。其优势是对面内可以进行非常全面的面内热物性分析。
但传统的SDTR技术普遍存在的一个问题,和FDTR一样它需要对绝对的相位误差进行校准。我们WildFire-ONE面内导率测量系统则创新性的使用相位差信号替代相位信号重新建模进行拟合,这项技术(发明专利号: ZL 2021 1 1527522.3)可以有效的避免相位校准过程中带来的误差,提高测量精度。
此外值得一提的是,我们WildFire-ONE面内导率测量系统还集成了光斑自动测量功能,从而大大的降低了拟合模型因光斑直径参数输入不准确而导致的测量不确定。热导率测量误差≤5%,光斑尺寸测量误差≤2%。
系统配置
1、电源需求:110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp
2、激光波长:泵浦638 nm,探测785 nm(标配,可根据用户需求选配)
3、激光功率:泵浦100 mW,探测20 mW(标配,可根据用户需求选配)
4、调制频率范围:标配DC-5MHz,可升级到50MH,200MHz
5、显微成像:标配,可观察样品表面状况及激光光斑位置
6、测温范围:标配室温,可增配80-500 K、300-1200 K、4-300 K等不同温区的变温模块
7、软件:全自动数据测量与分析处理、数据导出、报告生成
面内各向异性热导率张量测量结果
以X切石英晶体为例:
光学交流量热法不要求激光光斑有严格的圆度即能准确测量面内热导率张量
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