SpecMetrix® 膜重测试站——高级实验室涂层厚度测量系统
✔ 简化QA质量保证流程 ✔ 实时测量 ✔ 纳米级精度 ✔ 便于运输,易于升级
SpecMetrix 高级实验室涂层厚度测量系统可在单点和扫描模式下提供高度精确的非接触式样品检测
提供更精确的涂层和层厚测量数据,简化QA质量保证测试并改进过程控制
SpecMetrix 高级实验室系统为样品上涂料和涂层的非接触、非破坏性以及实时厚度测量提供了更高标准。
该系统旨在简化QA质量保证流程,凭借其独特的能力,可以纳米级精度识别和量化绝对薄涂层或层厚,因此成为实验室首选的分析工具。SpecMetrix 高级实验室系统能够加速离线样品测试,并显著提升原材料和成品的检验质量。
通过添加 X-Y 附件,可实时离线测试涂层平板样品和零部件,并在实验室或涂装线上对干涂层板材或卷材进行自动扫描测量
系统特点:
• 灵活快速 – 模块化设计,具有从QA质量保证实验室到生产车间的即时测量能力
• 非接触式 – 测量过程无需接触涂层或基材,保持部件的完整性
• 绝对厚度测量 – 超精确的实时涂层厚度测量,可加快样品测试、数据采集和质量保证分析
• 适用各种基材 – 可测量透明、有色或着色基底的湿/干样品
• 用途广泛 – 实时测量单层或双层涂层,或低至亚微米级别的离散层
• 安全无害 – 采用专有的非放射性和非侵入性 ROI 和 EXR 光学技术
• 环保 – 无损检测方法可减少废品、返工劳动力和能源成本
• 强大 SpecMetrix® 软件 – 用户友好、方便使用的软件包可自动将所有数据存储到 Excel® 或工厂网络中
可靠且可重复的系统,提供更精确的涂层质量保证和测试数据
在扫描模式下,测量是在给定的时间内进行的。最终结果是测量值的平均值
模块化设计便于系统重新配置和升级
用户友好的"配方助手"可帮助操作员创建新的和编辑现有的涂层配方
可选系统配置
• 用于定期在线使用的增强型实验室系统
• 用于连续测量的在线系统
• 半自动和全自动 ACS 容器涂层质量保证系统
• X-Y 附件用于离线测量板材或卷带样品
是
有
安装调试完成后我方工程师将在安装现场对客户使用人员进行培训,使其能独立完成与设备
我司提供预防性维护保养服务
在保修期内,凡非人为因素导致仪器的故障均免费维修,售后服务中心将为用户免费更换配
在接到用户仪器维护和保养服务通知后,售后服务部门将在2小时内响应;并将在最短
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