美国 Beam Imaging 高分辨率光束成像系统 用于针孔成像和光谱学
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Beam Imaging Solutions HRBIS 系统使高分辨率光束成像成为可能。HRBIS 可用于测量离子、电子和中性光束的二维或三维强度分布。HRBIS 还可用于对 X 射线进行成像，用于针孔成像和光谱学等应用。使用微通道板 （MCP） 和荧光屏组合创建图像。荧光粉均匀沉积在相干光纤 （FO） 基板上，以便图像可以通过光学传输到真空系统的外部进行分析。图像使用一系列 FO 导管相干地传输到真空视口，在该视口中，图像可以通过肉眼查看或使用 CID 或 CCD 相机系统进行记录和处理。HRBIS 系统有许多不同的配置，以最好地满足客户的特定应用和预算。HRBIS-11000 型高分辨率光束成像系统如下所示。右图显示了 HRBIS 标配的相机转接环。该环具有用于连接摄像机安装系统的螺纹孔，所有可选摄像机系统均提供该孔。
Beam Imaging Solutions HRBIS 系统使高分辨率光束成像成为可能。HRBIS 可用于测量离子、电子和中性光束的二维或三维强度分布。HRBIS 还可用于对 X 射线进行成像，用于针孔成像和光谱学等应用。使用微通道板 （MCP） 和荧光屏组合创建图像。荧光粉均匀沉积在相干光纤 （FO） 基板上，以便图像可以通过光学传输到真空系统的外部进行分析。图像使用一系列 FO 导管相干地传输到真空视口，在该视口中，图像可以通过肉眼查看或使用 CID 或 CCD 相机系统进行记录和处理。HRBIS 系统有许多不同的配置，以最好地满足客户的特定应用和预算。HRBIS-11000 型高分辨率光束成像系统如下所示。右图显示了 HRBIS 标配的相机转接环。该环具有用于连接摄像机安装系统的螺纹孔，所有可选摄像机系统均提供该孔。
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