小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪

报价 ¥30万

品牌

来因科技

型号

IN-WS10.

产地

中国大陆山东

应用领域

暂无

一、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪器简介

不完善粒测定仪是以小麦/高粱/大米等作物不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后,通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型,实时分析粮食特征并计算出不完善粒百分比的专用仪器。

二、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪产品参数

1、仪器能够按照 GB1351、GB1353、 GB/T 5494、对小麦/高粱/大米/玉米等作物不完善粒及病斑粒、虫蚀粒、破损粒、 生芽粒、生霉粒等分类的定义快速检测不完善粒总量及其分类各项含量。后续通过自主学习可以扩展到多品种作物。

2、检测重量:一次检测量:≥50g。

3、检测速度:每 50g 样品检测时间≤3min。

4、检测精度:双实验允差: ≤0.5%。

5、检测方法:振动送料,高清图像采集,保留样品的原始状态,对样品无破坏。

6、检测结果:以质量百分比为结果输出方式,检测结果包含不完善粒总量及其分项含量。

7、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪数据处理与存储:自动完成检测数据处理;存储≥二十万张视频图像照片,存储空间不低于 500GB。

8、显示:7寸或10寸屏幕选择,可视化显示界面,触屏功能,直观的菜单导航,整合帮助功能。

9、输出:USB2.0 输出接口和网线接口。数据自动保存,提供历史检测记录的快捷导出功能。

10、系统启动时间:≤1min。菜单语言:中文等。

11、环境适应性:温度:0℃-50℃;湿度:≤85%。

12、环境适应性 温度:0℃-40℃;湿度:≤ 85%。

13、供电 AC220V±20V,50Hz/60Hz

14、功耗:功率不高于 800W。

三、小麦/高粱/大米作物不完善粒分析仪配置要求

1、不完善粒检测主机 1 台。

2、内置电脑1 台及相应 的操作软件 1 套。

3、使用说明书。

4、出厂合格证。


售后服务

3天

1年

额外提供免费培训

1天内

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