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160nm -1200nm
-50℃~150℃
差示扫描荧光仪 SUPR-DSF
新一代SUPR-DSF(差示扫描荧光仪)可在极短的时间内获取尽可能多的信息。
差示扫描荧光仪 SUPR-DSF 可在60-80分钟内(一个升温过程)完成384个样品的稳定性分析与筛选!
差示扫描荧光仪 SUPR-DSF的主要性能 ：
高通量。一个升温过程如60-80分钟可完成384个样品的稳定性分析，一次成本仅100元左右。采用标准的384孔板，无需特殊耗材以及毛细管。
样品用量仅需10-20ul，浓度范围0.05 mg/ml-250 mg/ml。
适用于多个阶段的稳定性分析。具有10℃-105℃的宽温度扫描范围，不漏掉每一个结构域。 全荧光光谱扫描结合质心均值法，比350/330比值法获取更好的信噪比。
实验过程简单快速----384孔板加样(或自动工作站)-全光谱荧光扫描一数据模型拟合-数据排序与报告(无需任何特殊配件或耗材，仅使用一块384孔板)
差示扫描荧光仪 SUPR-DSF帮助使用者快速进行配方优化、筛选及候选**筛选。
30天
1年
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到货后7天内
1小时内
是
1天内
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