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透射电子显微镜原位 原位样品杆产品介绍：
INSTEMS-ME可以实现多种模式的电学施加和高精度的电学测量。同时，可以根据不同的倾转需求选择不同驱动方式。该产品可实现拉伸、压缩、弯曲等多种力学加载模式。借助于独创的力电耦合模式，INSTEMS-ME完美保存了TEM样品杆的双轴倾转功能，成为市场上首个可实现原子尺度力电耦合研究的实验平台。
透射电子显微镜原位 原位样品杆突出优势：
1、力场施加条件下高温加热能力
超宽加热范围( RT-1200 oC )
超高加热精度( < 0.1 oC )
可程序化加热
四探针测量
2、优异的电学施加和测量能力
多种通电程序
pA级电学测量
3、双轴倾转
α 轴倾转最高至±25°
β 轴倾转最高至±25°
4、稳定的原子尺度成像
极限样品漂移＜50 pm/s
空间分辨率≤0.1 nm
透射电子显微镜原位 原位样品杆技术指标：
最大驱动力 | 100 mN |
最大驱动位移 | 4 μm |
驱动精度 | < 500 pm |
最大电压 | ± 50 V |
电流测量范围 | 1 pA-1 A |
空间分辨率 | ≤0.1 nm |
EDS兼容性 | √ |
透射电子显微镜原位 原位样品杆应用领域：
压电材料
铁电材料
驱动/传感
光电伏材料
锂离子电池
纳米器件
柔性电子器件
……
3年
是
有
技术中心培训
6月一次
免费更换零部件
三个工作日到达现场维修
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