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技术参数：
LX8-CIT-3000SMB 能量色散X 荧光分析仪产品配置：
采用进口的美国AMPTEK 航天技术的SI（PIN）半导体探测器系列
采用独特专利数字脉冲采集电路及专利的电源管理技术
采用进口的X 光管
采用进口的专用的X 光管高压电源
采用专有金属滤光片技术和切换技术
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备专业的卤素测试模式和RoHS 测试模式
配备Dell 的Intel 双核CPU 电脑（1G 内存、160G 硬盘）
配备Dell 17”宽屏高清液晶显示器
配备USB2.0 蓝牙适配器
配备高档的激光打印机
配备专用的制样机
配备专用的PDA
配备专用的测试薄膜、测试样杯
配备专用的测试标样一套
CIT－3000SMB 能量色散X 荧光分析仪技术指标：
分析元素范围：S-U；
元素含量分析范围：1ppm -99.99%（采用1024 道多道分析器，分析精度更高）；
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于
139eV；
测量范围：1－40KeV；
重复性：<0.1%；稳定性：< 0.01%；
高压：5kV-40kV（激发源为进口 40KV-钨靶微型X 射线管）；
管流：5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射）；
整机功率：4W；
整机能量分辨率：150±5eV；
检测时间： 300S（一键完成从ROHS 测试开始到卤素测试结束）；
仪器重量：3Kg；
仪器尺寸：250（W）X120（D）X350（H）mm；
工作环境温度：温度0-40℃；样品温度＜70℃；
最低检出限： Pb/Cd/Hg/Br≤10ppm, Cr≤30ppm,Cl≤80PPm；
工作环境相对湿度：≤99%（不结露）；
测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单；
校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备掌上PDA，分析
仪通过无线蓝牙技术可单独和PDA 进行通信测试，方便使用；
稳定精确的卤素测试模式 （Cl 总含量和Br 总含量）和精确的RoHS 测试模式；
Cl 的检测下限达80ppm，技术指标遥遥领先国际水平（Cl 元素检测受其他干扰元素影响小，精度高）；
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE 有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；
钢铁、铝业、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测；
专业精确卤素检测；
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