仪器对比
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仪器简介：
技术参数：
对于半导体、金属、高分子材料等广泛的样品，从宏观分析、微观分析、深度分析，或从元素分析到状态分析，都可做多方面评价的ESCA/Auger的复合表面分析装置。
技术参数：
●XPS灵敏度：11800Kcps(1.30ev,MgKa)400Kcps(0.55ev,单色器)
●AES灵敏度：500Keps,S/N500:1
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