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ASTM D5796唯一指定仲裁法测量涂层厚度的仪器，可多层测量，同时得到结果。
技术参数：
DJH Crater Film Thick System测厚仪
DJH 公司由Doug Henderson于1989年9月于加拿大安大略湖创建。由于DJH的能力，设计及提供的解决客户应用的方案以及质量及设计上的创新非常适合客户的需求，公司的知名度得到迅速提高。
在1991 年4月，卷涂行业问DJH 能否提供一种较好的解决方案来测定涂层的厚度，在1991年7月第一个原型被制成成品并在客户处进行测试。该仪器很快就被作为他们生产线上及实验室中的一种标准方法进行实施，在经过多次的外观改进及产品研发后，该膜厚度系统（现叫“弹坑”）被介绍1992年10月在N.C.C.A举行的卷图工业贸易展，引起了巨大反响，DJH Designs 迅速成为干膜测试行业领军人物。1994年，DJH 向ASTM的一个代表提供关于它的一些细节信息及原理。1996年1月，DJH 测厚仪最终成为ASTM D5796-95 指定的ASTM 干膜测试标准。
主要特点：
• ASTM D 5796指定用测厚仪
• 卷涂行业推荐用测厚仪
• 一种全功能的干膜厚度测量仪
• 适用范围广，可用于实验室或生产现场的质量控制
• 试验结果重复性高
• 环保，不会产生污染环境的溶剂或其它污染物
• 低成本维护
• 测量速度快，测量结果精确
• 同时可以读取底漆、彩色涂层和外部清层的厚度
• 通过使用不同的碳化钻头可以测量厚度较大的干膜厚度（例如大于 2mm ）
• 光学视频系统还可用于不同的目的 (如测量底层表面的缺陷和涂膜缺陷等)
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