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仪器简介：
技术参数：
主要特点：
精密测量薄膜厚度，同时具有指针和数显功能。
技术参数：
参数：
测量范围：-2000µm ~+2000µm
分 辨 率：0.1µm
测量范围：-200µm ~+200µm
分 辨 率：0.01µm
主要特点：
附件：
高精度探头1340
重复精度：0.1µm
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