机构稳定可靠,成像清晰,操作简便,光学系统优良。广泛应用于各类半导体硅晶片检测,材料研究,地质矿物分析,以及精密工程等学科领域
光学系统: 平场消色差光学系统
物镜: 消色差物镜:4X、10X
平场物镜:4X、10X、20X、40XS、60XS
目镜: 平场目镜 PL10X/18mm、平场十字目镜 PL10X/18mm
高眼点大视野目镜 WF10X/18mm、WF10X/18mm(带测微尺)、WF16X/14mm、WF20X/10mm
观察筒: 铰链式双目,30°斜筒, 360°旋转
铰链式三目,30°斜筒, 360°旋转
单目,45°斜筒, 360°旋转
照明系统: 落射式柯拉照明,90V-240V自适应式宽电压,卤素灯6V30W,灯丝中心可调,亮度连续可调
调焦机构: 粗微动同轴,带有粗调松紧调节装置和随机限位装置;粗动行程22mm,微动精度:0.002mm
转换器: 内定位四孔转换器
载物台: 140X132mm,双层同轴机械移动,附180X145mm平板平台
附件: 摄影附件,摄像附件,偏光附件
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