仪器对比
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仪器简介：
技术参数：
机构稳定可靠，成像清晰，操作简便，光学系统优良。广泛应用于各类半导体硅晶片检测，材料研究，地质矿物分析，以及精密工程等学科领域
技术参数：
光学系统: 平场消色差光学系统
物镜: 消色差物镜：4X、10X
平场物镜：4X、10X、20X、40XS、60XS
目镜: 平场目镜 PL10X/18mm、平场十字目镜 PL10X/18mm
高眼点大视野目镜 WF10X/18mm、WF10X/18mm（带测微尺）、WF16X/14mm、WF20X/10mm
观察筒: 铰链式双目，30°斜筒， 360°旋转
铰链式三目，30°斜筒， 360°旋转
单目，45°斜筒， 360°旋转
照明系统: 落射式柯拉照明，90V-240V自适应式宽电压，卤素灯6V30W，灯丝中心可调，亮度连续可调
调焦机构: 粗微动同轴，带有粗调松紧调节装置和随机限位装置；粗动行程22mm，微动精度：0.002mm
转换器: 内定位四孔转换器
载物台: 140X132mm，双层同轴机械移动，附180X145mm平板平台
附件: 摄影附件，摄像附件，偏光附件
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