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JB4040β、γ表面污染检测仪

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品牌

暂无

型号

JB4040

产地

中国大陆其他地区

应用领域

暂无
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仪器简介:

适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α,β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。



技术参数:

计数范围:1~106
显示单位:CPM、CPS、μSv/h
探测器面积:35cm2
灵 敏 度:≥500CPM/μSv/h
剂量率范围:0~200.00µSv/h
仪器本底:β≤130 CPM
相对误差:测量范围内相对基本误差≤20%
供电电源:2节1.5v普通1号电池,整机电流≤60mA
温度范围:-10℃~45℃
湿度范围:相对湿度≤90%(40℃)
尺寸重量:0.64kg;20×10×5(cm)



主要特点:

适用于低水平β、γ辐射表面污染检测,同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器,具有较高的探测效率;是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行α,β辐射表面污染检测或X,γ辐射防护监测的理想仪器,该仪器采用单片机控制,LCD液晶显示,读数清晰、操作方便。

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