X荧光测厚仪

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X射线荧光测厚仪是一种用于非破坏性金属薄板、管壁、涂层等材料厚度测量的仪器。它通过发射高能X射线，使样品中的原子和分子受到激发，产生荧光，然后通过检测荧光信号的强度和能量，来确定样品材料厚度。 X射线荧光测厚仪可以适用于各种金属材料，包括钢铁、铜、铝、镍、锌、钛等，并且可以对厚度在0.01mm至200mm之间的材料进行精确测量。它不仅可用于实验室内部的质量控制和研究开发，也广泛应用于工业生产中的质量检验和控制。

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