X射线衍射仪

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X射线衍射仪（X-ray diffraction，简称XRD）是一种重要的材料分析仪器，适用于分析固体、粉末、晶体等样品的结构和组成。通过将X射线束照射到样品上，样品中的原子吸收X射线后重新向四周散射，这些散射光会被探测器接收并形成一个X射线衍射图谱，通过对谱图进行分析，可以确定样品的晶体结构及其成分。 XRD可以用于分析各种晶体材料，如金属、陶瓷、半导体、高分子材料等，也可以用于表面薄膜分析、纳米材料分析等。它在材料科学、化学、生物化学、地球科学等领域都有广泛的应用。

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