SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪

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品牌

SOC

型号

SOC720

产地

美洲美国

应用领域

共5个

北京安洲科技有限公司

营业执照已认证

金牌会员
第13年
一般经销商

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产品详情

SOC720SW短波红外高光谱成像式地物光谱仪
900nm —1700 nm

成像系统
SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器，光谱范围为900nm～1700nm。
OC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里，获得的是最高质量数据。

使用简单和实时处理
    SOC720SW是一个完整的系统，开箱之后即可使用。
    系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。
数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。
可选的SOC MIDIS™处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理，克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。
    MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分，使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。
    配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统，SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。
    SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据，可以很容易的用第三方分析软件打开，如ENVI软件。无须数据格式转换。

技术参数
光谱范围：                           900-1700 nm
光谱分辨率：                         6.25 nm
光谱通道：                           128
光谱失真：                           <1.5 microns (smile)
数字光圈：                           F/2.4
TFOV/IFOV (35MM)：                   10°/0.015625°
分辨率(像素)：                       640x640 (nominal)
LINE RATE：                          30 Spatial Lines/Second
CUBE RATE：                          20 Seconds/Cube
数字分辨率：                         14-bit
三脚架：                             3/8”-16
计算机接口：                         Cameral-Link
扫描：                               内置
供电：                               AC/12DV
重量：                               30 lbs.
尺寸：                               7”x14”x22”

应用领域：

机械视觉　
　-　电子学和塑胶
　-　晶片检查
　-　农业品质
　-　化学过程控制
农业领域
　-　精准农业
　-　土地分类
　-　水份胁迫
　-　作物健康
温度记录
　-　火点监测
　-　玻璃检测
　- 金属纯度
军事
　-　ISR
　-　边境安全
　-　导弹跟踪
医学领域
　-　血糖分析
　-　X线断层摄影术