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半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍:
载流子表征的最佳工具
本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。
利用一单色 (单波长) 的光源,对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后,照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号,并对此进行频域或时域的测量与分析,得到光电器件光电转换过程的重要参数。
包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。
作为光电器件特性评价与性能改进的参考。
半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色:
光强线性度测量与分析
频率响应测量 0~40MHz
可选雷射模块系统波长
雷射光调变控制
频率响应测量与分析
截止频率 (Cut Frequency) 计算分析
Rise/ Fall time 测量与分析
TPC/TPV 测量与分析
高动态光强变化光学调变模块,可自动调变强度 6 个数量级
半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格
TPC/TPV 量测功能
雷射波长:
半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用:
有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)
钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)
量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)
新型材料光传感器
实证
Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征
2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含:
变光强 IV 曲线测试。
变光强光电流与响应度变化测试。
定电压下光电转换爬升与下降时间测试。
恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。
TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。
恒定光强脉冲光的光电流时间响应
PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 < 5ns),在恒定光强脉冲光条件下,可以对器件进行光电流时间响应测试,并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。
变光强光电流与响应度变化测试 (LDR)
PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化,绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化,是常用于表征光电器件优劣的参数。
半导体 2023-11-01
1年
否
有
有
请与售后客服主管联系
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