为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验
在当今高速发展的科技时代,半导体作为电子信息产业的核心基石,其性能和可靠性至关重要。随着半导体技术的不断进步,对其在各种复杂环境下的稳定性和耐久性提出了更高的要求。而快速温变湿热试验箱 HT-TED-408PF 为半导体的实验研究提供了关键的测试平台。
技术参数:
温度范围:通常为 - 70℃~+150℃(特殊要求可达 - 100℃~150℃液氮)。
快温变范围:一般为 - 55℃~80℃。
快温变速率:5℃/ 分(线性或非线性变化)。
湿度范围:20%~98% R.H(10%~98% R.H、5%~98% R.H 为特殊选用条件)。
温 / 湿稳定度:±0.5℃,±2%。
温 / 湿均匀度:±1℃,±2%。
温、湿度偏差:≤±2℃/±3%R.H。
传感器:一般为 A 级铂金电阻(PT100)。
为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验
快速温变原理:通过精确的温度控制系统和高效的制冷、加热系统协同工作,按照设定的温变速率和温度变化范围,快速、准确地调节试验箱内的温度。例如,设定在短时间内从高温快速降至低温,温度控制系统会根据设定值,及时控制制冷系统加大制冷量,同时调节加热系统停止工作或降低功率,使试验箱内温度迅速下降;反之,当需要从低温快速升至高温时,控制系统则控制加热系统加大功率,制冷系统停止工作或降低功率,实现温度的快速上升
为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验
温度控制系统:
集成 PID 控制算法与智能温控芯片,实时监测并调整加热与制冷元件输出功率,实现对目标温度精确控制 。
用户可通过触控界面或远程控制系统,轻松设置温度曲线、升降速率及保温时间等参数,满足不同测试场景需求 。
具备故障自诊断与报警功能,检测到异常情况(如超温、电源故障等),立即启动保护措施并发出警报,确保测试过程安全可靠 。
制冷系统:
通常采用复叠式制冷技术或变频压缩机制冷技术,通过多级制冷循环,实现低温快速下降与稳定维持 。
制冷系统中关键部件(如压缩机、冷凝器、蒸发器及节流装置等)均选用国际品牌产品,保证系统可靠性与高效性 。
配备高效热交换器与制冷介质循环系统,提高制冷效率并降低能耗 。
具备智能除霜系统,应对苛刻低温环境下的结霜问题,确保测试过程不受影响 。
为何要采用快速温变湿热试验箱HT-TED-408PF做半导体的实验
其他特点与配置:
设备特点:新优化设计,省空间,狭小实验室也能放置;大视窗观察窗口,产品试验可视化更强;蓄水量大试验时间长,抽屉式结构设计方便清洗;多重安全保护措施,确保样品及设备安全;操作简单,易维护。
显示与操作:采用 10.4 英寸大型彩色触摸屏计测装置,根据画面显示,通过触摸画面即可轻松进行设定操作,试验规格、试验区温度、温度循环、趋势图显示等一目了然,可记录 90 天的参数功能(相当于配备无纸记录仪)。
安全保护:压缩机过流、超压、油压保护,无熔丝过载保护,加热、加湿干烧保护,箱内超温保护,水箱缺水警报系统等。
标准配置:观视窗(三层真空钢化玻璃),测试孔(¢50x1 只),试料架(2 组),超温保护器,视窗观测灯,保险 1 个。
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