方案摘要
方案下载应用领域 | 电子/电气 |
检测样本 | 其他 |
检测项目 | |
参考标准 | 无 |
开尔文探针力显微镜(KPFM)是一种将开尔文法应用于扫描探针显微镜(SPM)的分析方法,不仅可以测量样品的表面形貌,还可以检测其表面电势分布。在本文中,在紫外线照射下进行KPFM测试,实现了固定有AuNP的TiO2复合材料表面的光诱导电荷分布的可视化。
金属纳米颗粒与半导体构成的复合材料是典型的非均相光触媒,可实现多种光化学转化。例如,金纳米颗粒(AuNP)和二氧化钛(TiO2)的复合材料作为光触媒,因具有良好的反应性而被广泛研究。当TiO2吸收与其带隙能量相对应的入射光时,TiO2导带中的激发电子被转移到在其表面固定的AuNP上,从而阻止了TiO2内部的电荷复合。 电荷分布的可视化对于阐明上述现象具有重要作用。此外,可视化还可用于控制组装结构,这对于利用具有电子转移特性的金属蛋白来构建新型功能性生物装置至关重要。
开尔文探针力显微镜(KPFM)是一种将开尔文法应用于扫描探针显微镜(SPM)的分析方法,不仅可以测量样品的表面形貌,还可以检测其表面电势分布。在本文中,在紫外线照射下进行KPFM测试,实现了固定有AuNP的TiO2复合材料表面的光诱导电荷分布的可视化。
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