Agilent ICP-MS 截取锥

ICP-MS 截取锥是大气压氩等离子体和高真空四极杆 MS 之间接口区的组成部分。截取锥的尖端有一个小孔或开孔，用于将分析物离子传输到高真空 MS。安捷伦镍尖或铂尖截取锥具有适合您的安捷伦 ICP-MS 型号和配置的定制尖端几何形状。

通过严格控制安捷伦截取锥尖的运行温度来控制基质沉积，可实现理想的分析性能和信号稳定性。只有经过极严格质量控制检查的安捷伦原厂截取锥才能确保安捷伦 ICP-MS 的分析性能满足您的预期。

特性：

• 安捷伦原装接口锥经过 100% 质量检验，能够在整个质量范围内提供优异的灵敏度

• 镍截取锥适合各种常见的应用，可提供经济的操作

• 分析强酸（尤其是 HF）以及使用 O2/Ar 可选气体分析有机溶剂时，需要采用铂截取锥

• 对于需要极低 LODs 的应用和高基质样品，推荐使用带有铜基座的铂截取锥

• 推荐使用带有镍基座的铂截取锥进行有机物分析

• 使用带不锈钢截取锥基座的镍截取锥和带黄铜截取锥基座的铂尖截取锥，可确保合适的运行温度

• 安捷伦提供便捷的 ICP-MS 接口锥放大镜 (5190-9614)，让检查锥孔口变得更简单，以实现可靠的接口锥性能

工作原理：

截取锥对于 ICP-MS 性能至关重要

ICP-MS 的基本性能指标之一是灵敏度。截取锥对灵敏度的影响非常大，因为截取锥的功能是采集来自等离子体源的分析物离子，并传输分析物离子通过其孔口至离子透镜系统上。

无论是在收货时还是按照我们的老化指南进行老化后，安捷伦原厂截取锥在整个质量范围内均能提供出色的灵敏度。这可以帮助您避免导致重复运行的 QC 失败以及分析效率降低，为您节省时间和成本。

截取锥对 ICP-MS 检出限的影响

为了使用 ICP-MS 技术获得更低的 LODs，需要良好的灵敏度和较低的背景或背景等效浓度 (BEC)。

安捷伦镍尖和铂尖截取锥由高纯度的原材料制成，并在包装前进行了清洁。还将在交货之前对其进行 100% QC 检查。通过这种方式，我们大大降低了截取锥对仪器检出限 (IDL) 的影响。

ICP-MS 截取锥的质量可确保信号稳定性

为获得一致的结果并减少重新校准或重新测量样品的需求，ICP-MS 系统必须具备良好的短期和长期稳定性。截取锥尖的基质沉积或运行温度错误将导致随时间推移而发生信号漂移。

得益于对截取锥的几何形状、制造公差和质量的严格控制，安捷伦原厂截取锥达到了我们的性能指标。这确保了截取锥在整个使用寿命中以及不同截取锥之间的一致性。